Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Ramos Murillo, Manuel Antonio
Kolejni autorzy: Nogan, Jhon, Boll, Torben, Kauffmman-Weis, Sandra, Rodriguez Gonzalez, Claudia, Enriquez Carrejo, Jose Luis, Helmaier, Martin
Format: Artículo
Język:spa
Wydane: 2019
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150
https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy