Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography
The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , , , , |
| التنسيق: | Artículo |
| اللغة: | spa |
| منشور في: |
2019
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150 https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
