Méndez-González, L. C., Quezada Carreon, A. E., Rodriguez Picon, L. A., Perez Olguin, I. J. C., & García, V. (2022). A reliability analysis for electronic devices under an extension of exponentiated perks distribution.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Méndez-González, Luis Carlos, Abel Eduardo Quezada Carreon, Luis Alberto Rodriguez Picon, Ivan Juan Carlos Perez Olguin, e Vicente García. A Reliability Analysis for Electronic Devices Under an Extension of Exponentiated Perks Distribution. 2022.
Citação MLA (8ª ed.)Méndez-González, Luis Carlos, et al. A Reliability Analysis for Electronic Devices Under an Extension of Exponentiated Perks Distribution. 2022.
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