The additive Perks distribution and its applications in reliability analysis
https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/16843703.2022.2148884
שמור ב:
מחבר ראשי: | Méndez-González, Luis Carlos |
---|---|
מחברים אחרים: | Rodriguez Picon, Luis Alberto, Perez Olguin, Ivan Juan Carlos, García, Vicente, Luviano Cruz, David |
פורמט: | Artículo |
שפה: | en_US |
יצא לאור: |
2022
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://doi.org/10.1080/16843703.2022.2148884 https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/16843703.2022.2148884 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
A reliability analysis for electronic devices under an extension of exponentiated perks distribution
מאת: Méndez-González, Luis Carlos
יצא לאור: (2022) -
An Additive Chen Distribution with Applications to Lifetime Data
מאת: Méndez-González, Luis Carlos
יצא לאור: (2023) -
Reliability analysis using exponentiated Weibull distribution and inverse power law
מאת: Mendez Gonzalez, Luis Carlos
יצא לאור: (2019) -
Reliability analysis for DC motors under voltage step-stress scenario
מאת: Mendez Gonzalez, Luis Carlos
יצא לאור: (2020) -
A New Generalization of the Uniform Distribution: Properties and Applications to Lifetime Data
מאת: Méndez-González, Luis Carlos
יצא לאור: (2024)