Ваш поиск - "JIT; factores críticos de éxito; maquiladora; modelo de ecuaciones estructurales (MEE); efectos directos" - не найдены соответствующие книги.
Попытайтесь расширить свой поиск Все поля.
Можно получить больше результатов путем настройки запроса поиска.
- Удаление кавычек может позволить расширить поиск: JIT; factores críticos de éxito; maquiladora; modelo de ecuaciones estructurales (MEE); efectos directos.
Один или более facet-фильтров были применены к этому поиску. Если удалить фильтры, можно выбрать еще результаты.
Удалить все фильтры из этого поиска.