-
1A reliability analysis for electronic devices under an extension of exponentiated perks distributionYazar: Méndez-González, Luis CarlosTam Metin Erişim
Baskı/Yayın Bilgisi 2022
Tam Metin Erişim
Artículo -
2
-
3Yazar: Mendez Gonzalez, Luis CarlosTam Metin Erişim
Baskı/Yayın Bilgisi 2020
Tam Metin Erişim
Artículo -
4Yazar: Mendez Gonzalez, Luis CarlosTam Metin Erişim
Baskı/Yayın Bilgisi 2019
Tam Metin Erişim
Artículo -
5