Pronóstico de fallas y gestión de salud para la estimación del periodo de vida útil en dispositivos de sensado de pixeles activos (CMOS-APS): Resumen no. 2CP21-66

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Main Authors: Juan Andrés Alvídrez Esquivel, Luis Alberto Rodríguez Picón
Language:spa
Published: Instituto de Ingeniería y Tecnología de la Universidad Autónoma de Ciudad Juárez 2021
Subjects:
PHM
Online Access:http://erevistas.uacj.mx/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/4695
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