Análisis estadístico de examen diagnóstico para valorar la capacidad de transferir conocimientos abstractos a sus aplicaciones en diversos contextos

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Main Authors: Alfaro Avena, Luis Leobardo, Chávez Pierce, J. E., Estrada Cabral, J., Flores García, S.
פורמט: Artículo
שפה:spa
יצא לאור: Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada IPN - Latin American Physics Education Network 2017
נושאים:
Evaluación diagnóstica
Teoría y técnicas de evaluación
Confiabilidad interna
Research Subject Categories::MATHEMATICS
info:eu-repo/classification/cti/1
גישה מקוונת:http://hdl.handle.net/20.500.11961/2727
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