Esquemas de corrimiento de fase: estudio comparativo

La interferometría por corrimiento de fase es una técnica bien establecida para mediciones de fase, la cual requiere de una serie de patrones de franjas corridos en fase. En este trabajo, se analizan dos algoritmos de corrimiento de fase, los cuales se han usado para la recuperación de fase cua...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Muñoz, Antonio
Tác giả khác: Jiménez, Abimael
Định dạng: Artículo
Ngôn ngữ:spa
Được phát hành: 2019
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://doi.org/10.15174/au.2019.2627
http://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/2627/3408
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Miêu tả
Tóm tắt:La interferometría por corrimiento de fase es una técnica bien establecida para mediciones de fase, la cual requiere de una serie de patrones de franjas corridos en fase. En este trabajo, se analizan dos algoritmos de corrimiento de fase, los cuales se han usado para la recuperación de fase cuando se considera que los corrimientos de fase tienen error de calibración. El primer esquema analizado fue el algoritmo iterativo avanzado (AIA) y el segundo método es un esquema basado en el método de Levenberg-Marquardt (LM). Con el objetivo de mostrar su rendimiento, los evaluamos usando datos sintéticos y tomando en cuenta la exactitud,el orden de convergencia, así como el error por desentonamiento en los pasos. Los resultados muestran que ambos métodos reducen el error linealmente respecto al número de patrones de franjas; sin embargo, el esquema AIA tiene un desempeño significativamente mejor tanto en precisión como en tiempo de procesamiento. Este estudio arroja luz sobre las ventajas y desventajas de uso de las soluciones lineal y no lineal para la demodulación de patrones de franjas.