Esquemas de corrimiento de fase: estudio comparativo
La interferometría por corrimiento de fase es una técnica bien establecida para mediciones de fase, la cual requiere de una serie de patrones de franjas corridos en fase. En este trabajo, se analizan dos algoritmos de corrimiento de fase, los cuales se han usado para la recuperación de fase cua...
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| 第一著者: | |
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| その他の著者: | |
| フォーマット: | Artículo |
| 言語: | spa |
| 出版事項: |
2019
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://doi.org/10.15174/au.2019.2627 http://www.actauniversitaria.ugto.mx/index.php/acta/article/view/2627/3408 |
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| 要約: | La interferometría por corrimiento de fase es una técnica bien establecida para mediciones de fase, la cual requiere de una serie de patrones de franjas corridos en fase. En este trabajo, se analizan dos algoritmos de corrimiento de fase, los cuales se han usado para la recuperación de fase cuando se considera que los corrimientos de fase tienen error de calibración. El primer esquema analizado fue el algoritmo iterativo avanzado (AIA) y el segundo método es un esquema basado en el método de Levenberg-Marquardt (LM). Con el objetivo de mostrar su rendimiento, los evaluamos usando datos sintéticos y tomando en cuenta la exactitud,el orden de convergencia, así como el error por desentonamiento en los pasos. Los resultados muestran que ambos métodos reducen el error linealmente respecto al número de patrones de franjas; sin embargo, el esquema AIA tiene un desempeño significativamente mejor tanto en precisión como en tiempo de procesamiento. Este estudio arroja luz sobre las ventajas y desventajas de uso de las soluciones lineal y no lineal para la demodulación de patrones de franjas. |
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